动态数字探测器
动态41 | 100和200探测器是GE下一代工业X射线平板探测器平台中的第一个。41 | 100探测器在410 x 410 mm²的检测区域和100μm像素大小下，结合了卓越的图像质量和改进的检测速度。它以200微米的效率和对比噪声比获得100微米的结果，而新的41 | 200探测器将工业检查速度提高了2-3倍，允许在生产车间进行高通量全自动CT。
基于专有X射线探测器技术，Inspection Technologies独家向其射线照相和CT客户提供其首个100µm、16M像素探测器，专为粗糙和高能工业X射线应用而设计和优化。GE专有的EnduranceTM CSI闪烁体与传统的GadOx或其他粉末闪烁体相比，具有更高的分辨率和亮度。
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产品信息
利益
- 大面积16英寸X射线探测器，像素尺寸为100µm（16 MPixels），具有卓越的图像和结果质量，设计和优化后可在工业高能使用中长期可靠。
- 高分辨率图像，易于检测细微迹象（使用小焦点X射线管进行高达50µm的特征检测）。
- 与最先进的200µm像素探测器相比，新一代光电二极管设计的效率和灵敏度提高了10倍，分辨率提高了2倍，而不会影响循环时间。
应用
- 在不增加几何放大率的情况下检测2倍小的缺陷，可以以更高的分辨率成像大型物体。
- 通过增加检测器的灵敏度，更快的帧率，更大的成像区域和自适应的成像模式，减少了检查时间。
排他性
- Inspection Technologies专有的dynamic 41探测器系列专为其系统客户提供。
- 动态41|100探测器可选用于phoenix v|tome|x c, m和L连续油管系统，也可用于Seifert x|立方体。
技术规格
资源
