PMI / XRF分析仪

XRF（X射线荧光）是一种用于确定材料的元素组成的非破坏性分析技术。XRF分析仪通过测量由主X射线源激发时从样品中发射的荧光（或次级）X射线来确定样品的化学。样品中存在的每种元素产生一组特征荧光X射线（“指纹”），对于该特定元件是独特的，这是XRF光谱是XRF光谱是材料组合物的定性和定量分析的优异技术。